溫沖高溫試驗(yàn)箱

溫沖高溫試驗(yàn)箱選擇廣東愛(ài)佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司規(guī)模大，產(chǎn)量大、銷量也大。生產(chǎn)高低溫沖擊試驗(yàn)箱的人員基本上平均有10年以上的工作經(jīng)驗(yàn)，并擁有一批*的進(jìn)口生產(chǎn)設(shè)備，其中主要包含：折彎?rùn)C(jī)、剪板機(jī)、剪角機(jī)、電鉆、自動(dòng)沖床、減角機(jī)，噴涂老化房、設(shè)備成型后擁有一批高科技人才從焊接、組裝、制冷安裝、電路安裝、調(diào)試等環(huán)節(jié)，出廠具備出廠檢驗(yàn)書(shū)，專門(mén)檢測(cè)設(shè)備*工具，九點(diǎn)檢測(cè)儀器等相關(guān)設(shè)備。

              
愛(ài)佩公司生產(chǎn)的沖擊箱有瞬間從高溫沖到低溫或者從低溫瞬間沖擊到高溫的試驗(yàn)功能。適用于所有工業(yè)材料、工業(yè)產(chǎn)品的成品或者半成品。
1、詳細(xì)設(shè)備的型號(hào)及技術(shù)參數(shù)如下：(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-50內(nèi)箱尺寸：350×350×400外箱尺寸：1560×1750×1440
AP-CJ-80內(nèi)箱尺寸：500×400×400外箱尺寸：1700×1800×1440
AP-CJ-100內(nèi)箱尺寸：600×400×400外箱尺寸：1800×1800×1440
AP-CJ-150內(nèi)箱尺寸：600×500×500外箱尺寸：1800×1900×1540
AP-CJ-250內(nèi)箱尺寸：700×600×600外箱尺寸：1900×2000×1640
AP-CJ-480內(nèi)箱尺寸：800×800×750外箱尺寸：2020×2250×2150
2、溫度范圍：A:-40~ 150℃；B:-55~ 150℃；C:-65~ 150℃
3、電源均采用：3∮5W AC380±10% 50/60HZ
4、高溫室：預(yù)熱溫度范圍，RT 20℃~200℃升溫時(shí)間: 20℃~ 200℃約30min
5、低溫室：預(yù)冷溫度范圍，RT~-80℃降溫時(shí)間: 20℃~-80℃約80min
6、實(shí)驗(yàn)室沖擊：溫度均勻度±2.0℃
7、內(nèi)外部材質(zhì)：內(nèi)箱為SUS 304#不銹鋼板霧面處理，外箱為冷軋鋼噴塑處理或不銹鋼
8、保溫材質(zhì)：耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料
9、控制器：愛(ài)佩采用大屏觸摸屏
10、通訊功能：RS-232接口
11、壓縮機(jī)：'泰康'牌或''
12、制冷劑：R23和R404環(huán)保制冷劑
13、冷卻系統(tǒng)：全密閉式雙段壓縮機(jī)(風(fēng)冷式)或半密閉式雙段壓縮機(jī)(水冷式)
14、控制系統(tǒng)：微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)
15、冷凝器：不銹鋼釬焊板式換熱器
16、加熱器、冷卻器：鎳鉻合金加熱器、翅片式冷卻器、蓄冷器
17、氣動(dòng)氣缸：高溫、環(huán)境溫度、低溫暴露時(shí)的各個(gè)風(fēng)門(mén)驅(qū)動(dòng)用
測(cè)控系統(tǒng)：
1.控制器：進(jìn)口7寸觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊
2.運(yùn)行方式：程序方式
﹙1﹚控制對(duì)象 試驗(yàn)區(qū)曝露溫度
高溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度
低溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度
低溫恒溫區(qū)除霜溫度
﹙2﹚指示精度 0.1℃
﹙3﹚輸 入 熱電偶 TDIN
﹙4﹚控制方式 微電腦PID+SSR控制
3.設(shè)定方式：中文菜單，觸摸屏方式輸入。
4.程序容量：100組程式，每個(gè)程序大3步；每個(gè)程序可設(shè)1000次循環(huán)，大循環(huán)設(shè)定9999cycles;
溫沖高溫試驗(yàn)箱滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
GB/T 2423.22-2002溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則