線路板冷熱沖擊箱|兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行和滿足的試驗(yàn)方法有：SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；IEC

冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī)是一種用于測(cè)試復(fù)合材料及材料結(jié)構(gòu)在瞬間經(jīng)歷高溫和極低溫連續(xù)環(huán)境下的性能的設(shè)備。通過冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)，可以考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能，以及使用的適應(yīng)性。這

高低溫沖擊箱老化箱/冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家執(zhí)行和滿足的試驗(yàn)方法有：SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；IEC

測(cè)溫沖擊普測(cè)試儀器/冷熱沖擊試驗(yàn)儀器廠家執(zhí)行和滿足的試驗(yàn)方法有：SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；IEC

冷熱沖擊測(cè)試箱(冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī))能夠提供快速的溫度變化，使得測(cè)試能夠在較短的時(shí)間內(nèi)完成。它提供了精確的溫度控制和穩(wěn)定性，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

線路板冷熱沖擊箱|環(huán)境試驗(yàn)箱廠家用途： 廣泛用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

電路板高低溫冷熱沖擊機(jī)|電路板高低溫沖擊箱用途： 廣泛用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

玻璃冷熱沖擊試驗(yàn)箱|超低溫沖擊試驗(yàn)箱用途： 廣泛用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。